A Texas Instruments (www.ti.com) lançou em 2006 dois novos isoladores digitais de alta velocidade para 3,3 V e 5 V, ambos de alta velocidade.

Os novos componentes possuem uma entrada lógica e buffer de saída separados por uma barreira de isolação de óxido de silício (SiO2). Essa barreira proporciona uma isolação galvânica até 4 000 V.

Usados em conjunto com fontes isoladas, esses componentes podem ser usados para prevenir correntes de ruídos em barramentos de dados e outros circuitos, evitando que esses ruídos entrem pelo aterramento local, interferindo ou danificando circuitos sensíveis.

Na figura 1 temos o diagrama de funções desses componentes.


 

 

Nesses circuitos um sinal binário de entrada é condicionado, transladado para a forma de sinal balanceado e então diferenciado através da barreira capacitiva de isolação.

Nessa barreira de isolação, existe um comparador diferencial que recebe a informação da transição lógica e então seta ou resseta um flip-flop no circuito de saída.

Um pulso periódico de atualização é enviado através da barreira para assegurar o nível DC apropriado da saída. Se esse pulso de DC-refresh não for recebido num intervalo maior do que 4 us, a entrada é assumida como desligada ou não funcional e o circuito de segurança contra falhas leva a saída ao nível alto.

Esses dispositivos necessitam de duas tensões de alimentação de 3,3 V e 5 V, ou qualquer combinação. Todas as entradas toleram 5 V quando alimentados com 3,3 V e as saídas são CMOS de 4 mA.

O ISO721 tem entrada TTL e o ISO721M é CMOS.

Na figura 2 temos os invólucros desses componentes, com a identificação dos terminais.

 


 

 

Dentre as aplicações sugeridas pela Texas Instruments, temos as redes Fieldbus industriais (modbus, profibus, devicenet e outros sistemas), interface de comptadores e periféricos, interface de controle de servos e aquisição de dados.

Os destaques para esse CI são:

 

* Isolação de 4 000 V

* Taxa de sinalização de 0 Mbps a 150 Mbps

* Baixo tempo de propagação

* Baixa distorção de comprimento de pulso

* Alta imunidade eletromagnética

* Baixa corrente de entrada

* Saída indicadora de falha