A placa de avaliação onsemi EVBUM2897G-EVB foi projetada para medição comparativa de MOSFETs e IGBTs Elite SiC em vários invólucros discretos. A placa onsemi EVBUM2897G-EVB permite que os usuários testem e avaliem rapidamente o desempenho de comutação de dispositivos em seis tipos de pacotes: TO247-3L, TO247-4L, D2PAK-7L, BPAK7, TOLL e POWER88. Este sistema fornece uma solução eficiente para testes de desempenho e comparação de dispositivos, apresentando funcionalidade DPT discreta para operação simplificada.
